RUS/ENG

РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

Рентгено-структурный анализ - метод исследования атомно-мол. строения в-в, гл. обр. кристаллов, основанный на изучении дифракции, возникающей при взаимод. с исследуемым образцом рентгеновского излучения длины волны ок. 0,1 нм. Используют гл. обр. характеристич. рентгеновское излучение, источником к-рого служит, как правило, рентгеновская трубка.

Обычно прибором для рентгено-структурного анализа служит дифрактометр, к-рый включает источник излучения, гониометр, детектор и измерительно-управляющее устройство. Гониометр служит для установки (с точностью ок. 1-3 угловых секунд) исследуемого образца и детектора в нужное для получения дифракционной картины положение. Детекторы представляют собой сцинтилляционные, пропорциональные или полупроводниковые счетчики. Измерит. устройство регистрирует (непрерывно или по точкам) интенсивность рентгеновских дифракц. максимумов (отражений, рефлексов) в зависимости от угла дифракции-угла между падающим и дифрагированным лучами.

С помощью рентгено-структурного анализа исследуют поликристаллич. образцы и монокристаллы металлов, сплавов, минералов, жидких кристаллов, полимеров, биополимеров.

После определения общего характера кристаллич. структуры производят ее уточнение путем последоват. приближения значений теоретически рассчитанных структурных амплитуд к экспериментально определенным, напр. с помощью матем. метода наим. квадратов. Атомную структуру представляют в виде набора координат атомов и параметров их тепловых колебаний. Из этих данных можно вычислить межатомные расстояния и валентные утлы с погрешностью 10-3-10-4нм и 0,2-2° соответственно. Это позволяет более точно установить хим. состав кристалла, тип возможных изоморфных замещений (достоверность и точность при этом зависит от атомного номера элемента), характер тепловых колебаний атомов и т.д.



to articles / к подборке статей
Back to laboratory / Назад к разделу "Лаборатория"

ЗАО НПП “УТиМ” © 2008

+7 (812) 363 2051

+7 (812) 332 1078 info@fulleren.com